Microscope Raman NRS-7500

Spectrographe

Spectrographe (longueur focale)

Monochromateur Czerny-Turner à correction d'aberration (f = 500 mm)

Mécanisme de numérisation

Entraînement direct de haute précision

Attachement à faible nombre d'ondes

Rien

Standard
 (Excitation WL : 400 ~ 800 nm)

Plage de nombres d'ondes
(décalage Raman)

50 ~ 8000 cm ^{-1 * 1}

10 ~ 8000 cm ^{-1 * 2}

Résolution maximale

0,7 cm ^-1 (excitation 532 nm, 1800 gr / mm, CCD 1024 pixels)
0,3 cm ^{-1 en} option (excitation 532 nm, 2400 gr / mm, CCD 2048 pixels)

Grille

1800 gr / mm (Option : 3600, 2400, 1200, 600, 300, 150 gr / mm)

Max. Nombre de grille montable

4

Mise à niveau UV

Option d'usine pour l'excitation laser UV
(y compris les éléments optiques UV et la caméra d'observation de la lumière UV) ^{* 3}

Filtre de rejet

Filtre coupe-bande 532 nm
 (Option : filtres coupe-bande et filtres de bord pour d'autres longueurs d'onde d'excitation)

Commutation du filtre de rejet

Changement manuel (Option : mécanisme de commutation automatisé à 8 positions)

Diviseur faisceau

Séparateur de faisceau avec mécanisme de commutation automatisé
(option : miroirs dichroïques, maximum 2 miroirs dichroïques peuvent être montés) ^{* 4}

Détecteur

Détecteur standard

Détecteur CCD refroidi par Peltier à 4 étages (gamme UV-NIR, 1024 × 255 pixels)

Détecteurs en option

Détecteur CCD refroidi par Peltier à 4 étages (haute résolution, 2048 × 512 pixels)
 Détecteur InGaAs refroidi à l'azote liquide (pour laser à excitation 1064 nm, 1024 pixels)

Commutation à double détecteur

Option d'usine (requise lors de l'utilisation de 2 détecteurs)

Laser

Laser

532 nm, 50 mW (en option : 244 ^{* 5} , 266 ^{* 5} , 325 ^{* 5} , 355 ^{* 5} ,
 442, 488, 514,5, 633, 660, 785, 1064 nm)

Nombre maximum de laser
montés à la fois

Interne : Max. 2 ^{* 6} , externe: max. 6
 (laser VIS-NIR: max.3, laser UV: max.3),
 Total: max. 8 lasers, 9 longueurs d'onde

Microscope

Observation microscopique

Standard : caméra CMOS intégrée haute résolution
 (option : binoculaire, trinoculaire, observation de polarisation,
 interférence différentielle, éclairage de transmission)

Optique confocale

Standard

DSF (double filtre spatial)

Standard ^* Non disponible pour le modèle amélioré UV

SRl (Image de résolution spatiale)

Standard ^* Non disponible pour le modèle amélioré UV

Objectifs

Objectifs 5 ×, 20 ×, 100 × (option : type longue
 distance de travail, type UV, type NIR)

Stade d'échantillonnage standard

Platine XYZ manuelle (distance utile X : 75, Y : 50, Z : 30 mm)

Étapes d'échantillonnage facultatives

Autostage XY avec accessoire joystick
 (plage de course X : 100, Y : 70 mm, pas de 0,04 µm),
 autostage Z (plage de course Z : 30 mm, pas de 0,1 µm)

Imagerie SPRIntS

Option d'usine (y compris VertiScan, importation de données à grande vitesse,
 mesure d'imagerie 3D, autostage Z, fonction autofocus)

Imagerie automatique

Option d'usine (y compris la mesure d'imagerie,
 la mesure d'imagerie 3D, l'autostage XYZ, la fonction de mise au point automatique)

Unité de mesure macro

Option d'usine (le système d'imagerie SPRIntS et l'
 unité de mesure Macro ne peuvent pas être fournis simultanément)

Fonction d'alignement automatique

Alignement automatique du faisceau laser, auto-alignement de la diffusion Raman

SGI (image du guide de fente)

Standard

Lampe néon

Standard (pour la correction du nombre d'ondes)

Fonction de sécurité

Verrouillage laser intégrer de la chambre d'échantillonnage, protection du trajet de la lumière laser (conformité de classe 1)

Logiciel

Fonction standard

Mesure ponctuelle, mesure à large bande spectrale, fonctions de traitement de données spectrales de base,
 recherche / analyse des groupes fonctionnels (Sadtler KnowItAll), suppression des rayons cosmiques,
 correction automatique de la fluorescence, correction du nombre d'ondes, correction de la sensibilité,
 toile JASCO (fonction d'impression), validation, fonction d'aide à l'utilisateur

Fonctions incluses dans
SPRIntS Imaging et
Autostage Imaging

Image omnifocale, affichage en temps réel du spectre, de l'image chimique et du point de mesure actuel, carte multi-images, mise au point automatique (prenant en charge à la fois le contraste de l'image échantillon et les algorithmes de mise au point laser), l'analyse d'imagerie (y compris la hauteur de pic (rapport), la zone de pic ratio), Peak shift, PWHH), cartographie PCA, imagerie 3D (y compris affichage d'image 3D Raman, affichage de tranche d'image 3D)

Programmes optionnels

Mesure de criblage à haut débit ^{* 7} , analyse de mesure d'intervalle, analyse de contrainte ^{* 8} , analyse du carbone, évaluation de la cristallinité du polysilicium, corrélation 2D

Table anti-vibration ^{* 9}

Option (source d'air pour table anti-vibration : source d'azote gazeux ou d'air, pression secondaire 0,25 - 0,3 MPa)

Dimensions
(unité principale uniquement)

1060 (L) × 1220 (P) × 670 (H) millimètre

1540 (L) × 122 (P) × 670 (H) millimètre

Poids
(unité principale uniquement)

Environ 230 kg

Environ 270 kg

Puissance requise

100 V CA ± 10 V, 200 V ± 20 V, 200 VA