Le NRS-4500 est un microscope Raman compact conçu pour rendre son utilisation simple et rapide. En effet, l'appareil dispose de nombreuses protection et d'aide à l'utilisation ainsi qu'un grand compartiment échantillon.
Présentation du Microscope Raman NRS-4500
Le changement, la sélection et l'alignement du laser du filtre de rejet et du réseau est totalement automatisé.
Le point laser est observé sur tous les modèles (y compris 1064 nm) ce qui garantit que l'échantillon visualisé est effectivement mesuré. L'identification des échantillons, l'analyse par imagerie et l'identification peuvent tous être effectués en temps réel, ce qui accélère le processus de préparation de l'échantillon pour voir les résultats.
Imagerie confocale
Un étage XYZ automatique est utilisé pour l'imagerie confocale avec une résolution spatiale X/Y jusqu'à 1 µm (Z = 1,5 µm). La suite SpectraManager™ avec l'application d'analyse d'imagerie est utilisée pour collecter une image tridimensionnelle de l'échantillon qui peut être tournée et vue sous n'importe quel angle.
La carte d'image est créée à l'aide de données de pics correspondant à des groupes fonctionnels clés et l'analyse de plusieurs pics peut être combinée pour créer des images de données puissantes.
Configuration optique
Le spectrographe f200 comprend jusqu'à 4 réseaux sélectionnés automatiquement et la détection par un réseau CCD ou InGaAs haute performance (avec des options pour les EMCCD multiplicateurs d'électrons). Le système d'observation du microscope Raman NRS-4500 comprend une caméra CMOS super résolution avec des optiques Olympus et un choix d'objectifs de x5 à x100. Les options objectives incluent le NIR (proche infrarouge) et une longue distance de travail pour travailler avec des étages de refroidissement et d'échantillonnage de chauffage.
Configuration standard - lasers 532/785 nm avec filtres de bord assortis
Le NRS-4500 offre plusieurs configurations standard, y compris le laser simple 633 nm typique ou la combinaison laser 532/785 nm avec des filtres à encoche ou de bord correspondants avec une option pour un troisième laser qui peut être monté à l'intérieur ou à l'extérieur.
L'observation du point laser garantit un alignement parfait de la position de l'échantillon cible et fournit une indication de la rugosité de la surface. Toutes les longueurs d'onde laser sont sélectionnées dans le logiciel et une fois sélectionnées, le système optique (y compris le laser) est automatiquement aligné pour un débit et une résolution optimale.
Quatre réseaux sélectionnables par logiciel contrôlent la plage spectrale et la résolution de 8000 à 100 cm-1 (8000 à 50 cm-1 en option). Le système d'entraînement direct à réseau comprend un codeur rotatif pour assurer une excellente reproductibilité de la longueur d'onde ± 0,2 cm-1.
Laser 457 nm et algorithme breveté de rejet de fluorescence
JASCO a développé de nouveaux mécanismes brevetés pour gérer la fluorescence des échantillons.
Nous pouvons utiliser des longueurs d'onde laser de 785 nm et jusqu'à 1064 nm. Nous avons récemment incorporé un laser à 457 nm qui offre un signal Raman nettement plus élevé, une résolution spatiale améliorée et une fluorescence beaucoup plus faible pour de nombreux types d'échantillons différents. La sélection d'une longueur d'onde laser d'excitation différente n'est que l'un des moyens par lesquels le NRS-4500 minimise les interférences de fluorescence. L'algorithme de rejet de fluorescence (breveté) inclus dans le Spectra Manager™ peut éliminer ou minimiser efficacement la fluorescence quelle que soit la longueur d'onde laser utilisée au moment de la mesure.
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Modèle |
NRS-4500 |
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Monochromateur : |
Monochromateur unique à monture Czerny-Turner à correction d'aberration, f = 200 mm |
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Mécanisme de balayage du nombre d'ondes :
Plage de nombres d'ondes : |
Type à entraînement direct de haute précision (avec encodeur rotatif) |
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Résolution : |
2 cm-1 / pixel (standard, 100 à 3900 cm-1) |
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Grille : |
Standard : 900 gr / mm |
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Alignement optique : |
Alignement automatique (lumière laser) |
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Commutation du filtre de rejet : |
Mécanisme de commutation automatique des filtres (jusqu'à 4 filtres) en standard |
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Détecteur |
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Détecteur : |
Détecteur Peltier CCD refroidi par air (max. -60 ° C), 1650 x 200 pixels, 16 µm x 16 µm, visible par NIR |
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Détecteurs en option : |
Type haute sensibilité visible, type haute sensibilité NIR, type haute résolution, InGaAs, etc. |
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Laser |
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Laser : |
Standard : 532 nm, 20 mW |
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Nombre de lasers montables : |
Maximum 3 lasers (3 internes ou 2 internes et 1 externe) |
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Microscope |
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Exemple d’observation : |
Caméra CMOS haute résolution (300 M pixels) |
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Système optique confocal : |
Standard |
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Résolution spatiale : |
XY = 1 µm, Z = 1,5 µm |
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Objectif : |
5x, 20x, 100x, (objectif Plan Achromat) Carrousel d'objectifs manuel à 6 positions de série Carrousel à 6 positions à entraînement électronique en option. Le type à longue distance de travail, le type NIR, les lentilles à immersion dans l'eau sont également disponibles en option |
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Étape de l’échantillon : |
Platine XYZ automatique avec fonction de mise au point automatique |
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Mesure d’imagerie : |
Option, imagerie de scène automatique avec mise au point automatique, incrément XYZ de 0,1 µm, imagerie 3D, mise au point omnidirectionnelle |
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Classification de sécurité laser et mécanisme de sécurité : |
Mécanisme de verrouillage de classe I par logiciel et matériel, protection du chemin optique laser |
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Mesure macro : |
Option, l'unité de macro-mesure de type carrousel est disponible en option de mise à niveau locale |
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Sonde fibre : |
Option (commutation manuelle) |
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Autres options matérielles : |
Miroir dichroïque, observation polarisée, contraste d'interférence différentiel, éclairage transmis |
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Logiciel |
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Programme standard : |
Mesure de spectres microscopiques, validation, analyse spectrale, analyse d'imagerie, correction du nombre d'ondes, correction de sensibilité, correction de fluorescence, toile JASCO |
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Programme d'imagerie : |
Fonction de recherche d'échantillon, fonction de mise au point multiple, vue focalisée, observation de la structure 3D, calcul de pic, cartographie PCA, correction de l'indice de réfraction |
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Programme de correction : |
Standard, correction auto-fluorescence, correction de sensibilité, correction du nombre d'ondes (lampe Ne et échantillon Std sont inclus) |
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Programme optionnel : |
Analyse de mesure d'intervalle, mesure de changement thermique, analyse d'imagerie, analyse de stress, analyse de carbone |
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Autres |
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Table anti-vibration : |
Option (source d'air pour table anti-vibration : source d'azote gazeux ou d'air, pression secondaire 0,25 - 0,3 MPa) |
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Dimension et poids : |
Unité principale 550 (L) x 610 (P) x 800 (H) mm, env. 80 kg – Alimentation : 220 (L) x 320 (P) x 70 (H) mm, env. 3 kg 100 V CA ± 10 V, 200 V CA ± 20 V, 200 VA |
Pour en savoir plus sur les avantages des microscopes Raman JASCO
Imagerie Raman Rapide (QRI)
Permet d'acquérir le spectre jusqu'à 50x plus rapidement qu'un microscope Raman conventionnel (en option).
En reproduisant les mêmes conditions de mesure, la vitesse d'imagerie est 50x plus rapide sur un microscope Raman JASCO qu'un autre appareil conventionnel grâce au QRI.
Imagerie Raman Rapide (QRI)
Mesure d'échantillons irréguliers
Le SSI (Surface Scan Imaging) est un processus utilisant l'intelligence artificielle qui permet d'analyser un échantillon avec une surface irrégulière.
Surface Scan Imaging (SSI)
